優(yōu)耐檢測(cè)-插拔力壽命測(cè)試 |
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插拔力測(cè)試介紹:
插拔力試驗(yàn)是指將相互配合的公母兩端電子連接器進(jìn)行插入和拔出所需要的力量.改試驗(yàn)適用于連接器的插入力、拔出力,、塑料保持力以及使用壽命等多種測(cè)試,透過計(jì)算機(jī)的分析,可精確測(cè)量待測(cè)物的荷重,、行程及相對(duì)應(yīng)變化曲線,并可準(zhǔn)確控制連接器插拔力測(cè)試行程、速度,、目標(biāo)測(cè)定次數(shù)及暫停時(shí)間.
插拔力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):
EIA-364-13D-2007
適用產(chǎn)品:
插拔力測(cè)試適用產(chǎn)品:
連接器公母頭,數(shù)據(jù)線,耳機(jī)等等.
試驗(yàn)設(shè)備:
插拔力測(cè)試機(jī)
測(cè)試流程:
1 確認(rèn)測(cè)試條件
2 確認(rèn)樣品數(shù)量
3 是否判定(1根據(jù)客戶要求 2標(biāo)準(zhǔn)判定)
4 測(cè)試結(jié)果,出具報(bào)告
可靠性測(cè)試項(xiàng)目:冷熱沖擊試驗(yàn),快速溫度變化試驗(yàn),UV紫外光老化試驗(yàn),氙燈老化及鹽霧試驗(yàn),振動(dòng)試驗(yàn),三綜合試驗(yàn)等
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