我們專注于橫向干涉測量法,它是最敏感的光纖測量技術.因為測量是橫向執(zhí)行(通過光纖的端口),所以它從本質上是無損檢測.雖然光纖的高分子涂層或者緩沖區(qū)必須被去除,光纖本身仍然可以繼續(xù)傳輸測量中的光信號,同時如果必要的話那些高分子涂層在光纖測量之后可以被完全恢復.光纖折射率分析儀可以對光纖樣品進行單波長,、多波長的1D,、2D測量,獲得任何類型光纖的折射率、應力和幾何形狀數(shù)據(jù).

產(chǎn)品特點

• 多波長

• 無劈開要求

• 亞微米空間分辨率

• 適用于任何形式光纖

• 快速測量

• 可測量接頭,、錐度,、耦合器