ND605  CT參數(shù)分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

    ? 滿足各類CT(如:保護(hù)類,、計(jì)量類,、TP類)的勵(lì)磁特性、二次繞組電阻、二次負(fù)荷,、比差以及角差,、負(fù)載測(cè)量、CT線圈電阻測(cè)量,、CT磁化特性記錄,、CT暫態(tài)行為測(cè)量(IEC60044-6)、考慮連接負(fù)載的CT變比測(cè)量,、CT相位和極性測(cè)量,、測(cè)定準(zhǔn)確限值參數(shù)(ALF)、儀表安全系數(shù)(FS),、二次時(shí)間常數(shù) (Ts),、剩磁系數(shù)(Kr)、暫態(tài)面積系數(shù)(Ktd),、拐點(diǎn)電壓/電流,、等級(jí)、飽和和非飽和電抗.等測(cè)試要求,又可用于各類PT電磁單元的勵(lì)磁特性,、變比,、極性、二次繞組電阻,、比差以及角差等測(cè)試.

    ? 自動(dòng)給出拐點(diǎn)電壓/電流,、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)(ALF),、儀表保安系數(shù)(FS),、二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr),、飽和及不飽和電感等CT、PT參數(shù).
    ? 測(cè)試滿足GB1208(IEC60044-1),、GB16847(IEC60044-6) ,、GB1207等各類互感器標(biāo)準(zhǔn),并依照互感器類型和級(jí)別自動(dòng)選擇何種標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試.
    ? 基于先進(jìn)的低頻法測(cè)試原理,能應(yīng)對(duì)拐點(diǎn)高達(dá)30KV的CT測(cè)試.
    ? 界面友好美觀,全中文圖形界面.
    ? 裝置可存儲(chǔ)2000組測(cè)試數(shù)據(jù),掉電不丟失.試驗(yàn)完畢后用U盤存入PC機(jī),用軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,并生成WORD報(bào)告.
    ? 測(cè)試簡(jiǎn)單方便,一鍵完成CT直阻、勵(lì)磁,、變比和極性測(cè)試,而且除了負(fù)荷測(cè)試外,CT-各項(xiàng)測(cè)試都是采用同一種接線方式.
    ? 易于攜帶,裝置重量<9Kg.
    ? 按照 IEC 60044-1, IEC 60044-6 或 IEEE (ANSI 標(biāo)準(zhǔn)) 進(jìn)行測(cè)試和結(jié)果評(píng)估
    ? 準(zhǔn)確等級(jí)( %/1 min.)高,可以進(jìn)行級(jí)測(cè)量CT的現(xiàn)場(chǎng)校準(zhǔn)和驗(yàn)證
    ? 對(duì)特殊 CT,如 TPS,、 TPX、 TPY 和 TPZ 的測(cè)試和自動(dòng)評(píng)估
    ? 可以進(jìn)行頻率從 到 400 Hz 的 CT 測(cè)試
    ? 對(duì)于參數(shù)未知的 CT 進(jìn)行自動(dòng)分析("猜銘牌"功能)
    ? 采用不同負(fù)載和不同一次電流測(cè)試后重新計(jì)算測(cè)試結(jié)果(無(wú)需再進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量)
    ? 高安全性-所有測(cè)試采用低電壓(120V),歐州專利EP 1 398 644 A1
    ? 對(duì)變比(50 000 : 1) ,、一次電流 (999 000A max.),、拐點(diǎn)電壓(15kV max.) 幾乎無(wú)-
    ? 測(cè)試完成之后自動(dòng)對(duì) CT 退磁
    ? 數(shù)據(jù)保存在可移動(dòng)閃存卡(CF)中,可以通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)存卡讀卡器讀出
    ? 遠(yuǎn)方接口可以將測(cè)試儀集成入一個(gè)自動(dòng)生產(chǎn)過(guò)程
    ? 在Microsoft ExcelTM進(jìn)行報(bào)告定制
    ? 很便利地導(dǎo)入MS OfficeTM 標(biāo)準(zhǔn)軟件里并進(jìn)行編輯

ND605  CT參數(shù)分析儀產(chǎn)品參數(shù):